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多学科技术交叉创新、多产业商业模式互补创新

多层次立体研发体制创新

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多层次立体研发体制创新

半导体器件标准

2024-01-09

20230659-T-339半导体器件   能量收集和产生半导体器件 第1部分:基于振动的压电能量收集器
20230656-T-339半导体器件 能量收集和产生半导体器件   第3部分:基于振动的电磁能量收集器 
20230650-T-339半导体器件的机械标准化   第6-21部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 小外形封装(SOP)尺寸测量方法
20230649-T-339半导体器件的机械标准化   第6-19部分:高温下封装翘曲度的测量方法和最大允许翘曲度 
20230657-T-339半导体器件 能量收集和产生半导体器件   第2部分:基于热功率的热电能量收集器 
20230653-T-339半导体器件 能量收集和产生半导体器件   第6部分:垂直接触模式的摩擦电能量收集器测试和评估方法 
20230652-T-339半导体器件 能量收集和产生半导体器件   第5部分:测量柔性热电器件发电功率的测试方法
20230654-T-339半导体器件 能量收集和产生半导体器件   第7部分:线性滑动模式的摩擦电能收集器 
20230658-T-339半导体器件 汽车用半导体接口   第3部分:汽车传感器用冲击驱动压电能量收集器      
20230662-T-339半导体器件 柔性可拉伸半导体器件   第6部分:柔性导电薄膜的薄膜电阻测试方法 
20230661-T-339半导体器件   实际振动环境下运动能量收集器件的测量和评价方法 第1部分:随机振动 
20230660-T-339半导体器件 汽车用半导体接口   第2部分:汽车传感器用谐振式无线功率传输效率评价方法
20230648-T-339半导体器件的机械标准化   第6-17部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 叠层封装设计指南-密节距焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)
20230655-T-339半导体器件 能量收集和产生半导体器件   第4部分:柔性压电能量收集器测试和评估方法

半导体器件 人体通信半导体接口   第4部分:胶囊内窥镜

半导体器件 柔性可拉伸半导体器件   第3部分:柔性基板在凸起状态下的薄膜晶体管性能评价

半导体器件 柔性可拉伸半导体器件   第7部分:柔性有机半导体封装薄膜阻挡特性测试方法

半导体器件 柔性可拉伸半导体器件   第2部分:柔性器件的电子迁移率、亚阈值摆幅和阈值电压评价方法

半导体器件 分立器件   第4部分:微波二极管和晶体管

半导体器件 机械和气候试验方法   第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输

半导体器件 机械和气候试验方法   第28部分:静电放电(ESD)敏感度测试 充电模型(CDM) 器件级

电子元器件 半导体器件长期贮存   第9部分:特殊情况
20231583-T-339半导体器件 汽车用半导体接口   第4部分:汽车传感器用数据接口评价方法
20231585-T-339半导体器件 汽车用半导体接口   第1部分:汽车传感器用电源接口通用要求

半导体器件 柔性可拉伸半导体器件   第4部分:柔性半导体器件的薄膜和基板疲劳评价
20231578-T-339半导体器件 柔性可拉伸半导体器件   第5部分:柔性材料热特性测试方法

电子元器件 半导体器件长期贮存   第8部分:无源电子器件

电子元器件 半导体器件长期贮存   第7部分:微电子机械器件

半导体器件 第19-2部分:智能传感器   驱动智能传感器低功耗运行的传感器和电源规范要求
20231580-T-339半导体器件   金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验 第1部分:MOSFETs的快速偏置温度不稳定性试验
20231582-T-339半导体器件 柔性可拉伸半导体器件   第1部分:柔性基板上导电薄膜的弯曲试验方法
20231576-T-339半导体器件 机械和气候试验方法   第41部分:非易失性存储器可靠性试验方法



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